广州广电计量检测股份有限公司(股票简称:广电计量,股票代码:002967)始建于1964年,是原信息产业部电子602计量站,经过50余年的发展,现已成为一家全国化、综合性的国有第三方计量检测机构,专注于为客户提供计量、检测、认证以及技术咨询与培训等技术服务,在计量校准、可靠性与环境试验、电磁兼容检测等多个领域的技术能力及业务规模处于国内水平.
速读AEC-Q系列家族成员
车用电子主要依据国际汽车电子协会(Automotive Electronics Council，简称AEC)作为车规验证标准，包括AEC-Q100(集成电路IC)、AEC-Q101(离散组件)、AEC-Q200(被动组件)。而AEC-Q102(离散光电LED)、AEC-Q104(多芯片组件)为近期较新的汽车电子规范。
AEC测试条件虽然比消费型IC规范严苛，但测试条件仍以JEDEC或MIL-STD为主，另外加入特殊规格，例如电磁兼容性(EMC)验证。
设备能力
环境、应力筛选主要设备能力:
Ø高低温试验箱-热循环试验
Ø热冲击试验箱-热冲击试验
Ø振动台-机械振动试验
Ø恒定加速度试验台-恒定加速度试验
Ø可编程电源-电压、功率老炼试验
Ø电子负载-电流、功率老炼
Ø频率发生器-老炼试验
Ø浪涌发生器-浪涌试验
Ø高温真空箱
电测试主要设备能力:
Ø阻抗分析仪
Ø高阻计
Ø耐压测试仪
Ø半导体参数分析仪
Ø图示仪
Ø可编程电源
。。。。。
测试周期：
3-4个月，提供全面的认证计划、测试等服务
服务内容：
广电计量失效分析实验室AEC-Q技术团队，执行过大量的AEC-Q测试案例，积累了丰富的认证试验经验，可为您提供更、更可靠的AEC-Q认证试验服务。
产品范围：
集成电路(IC)
AEC-Q100认证标准主要如下：
AEC-Q001 零件平均测试指导原则
AEC-Q002 统计式良品率分析的指导原则
AEC-Q003 芯片产品的电性表现特性化的指导原则
JEDEC JESD-22 封装器件可靠性测试方法
MIL-STD-883 微电子测试方式和程序
GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序
EIA -469 破坏性的物理分析
MIL-STD-202 电子和电气元器件测试方法
。。。。
AEC-Q100认证测试方法主要如下：
加速环境应力测试
偏高湿度、温度循环、功率温度循环、高温储存、盐雾测试、湿度抵抗、机械冲击、变频振动、恒加速应力、盖板扭力测试、芯片切断、跌落测试
加速寿命模拟测试
高温工作寿命、早期失效率、热冲击、旋转寿命、寿命终止模拟验证
封装组合整装测试
邦线切应力/拉力、锡球切应力、可焊性、引线完整性、剪切强度、断裂强度、抗焊接热、端子强度
芯片晶圆可靠度测试
电迁移、介质击穿、热载流子注入、负偏压温度不稳定性、应力迁移
电气特性确认测试
人体模式/机器模式静电放电、ESD、带电器件模式静电放电、闩锁效应、电分配、故障分级、电热效应引起的栅漏、电磁兼容、短路特性描述、软错误率、瞬时电传导、短路失效电流持久性
联系我时，请说是在黄页88网广州产品检测服务栏目上看到的，谢谢！
