AEC-Q100认证助力集成电路（IC）的可靠性-广电计量实验室
服务项目 |
集成电路,IC器件,分立器件,半导体器件 |
面向地区 |
|
行业类型 |
电子电器 |
集成电路（IC）AEC-Q100认证试验
广州广电计量可以做AEC-Q-100认证报告,AEC-Q-101认证报告,AEC-Q-102认证报告, AEC-Q-104认证报告，AEC-Q-200认证报告，元器件筛选，破坏性物理分析，NVH，LV324认证，AQG324认证。
IC作为重要的车载元器件部件，是AEC持续关注的领域。AEC-Q100对IC的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验，且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件。需要注意的是，第三方难以立完成AEC-Q100的验证，需要晶圆供应商、封测厂配合完成，这更加考验对认证试验的整体把控能力。广电计量将根据客户的要求，依据标准对客户的IC进行评估，出具合理的认证方案，从而助力IC的可靠性认证。
什么是AECQ
AEC 是"Automotive Electronics Council:汽车电子协会"的简称.
克莱斯勒、福特和通用汽车为建立一套通用的零件资质及质量系统标准而设立了汽车电子(AEC),是主要汽车制造商与美国的主要部件制造商汇聚一起成立的、以车载电子部件的可靠性以及认定标准的规格化为目的的团体,AEC建立了质量控制的标准.[AEC-Q100]是针对于集成电路应力测试认证的失效机理,针对于分立器件的标准为 [AEC-Q101],针对于LED的标准为 [AEC-Q102],针对于被动元件设计为[AEC-Q200]
测试周期：
3-4个月，提供全面的认证计划、测试等服务
服务内容：
广电计量失效分析实验室AEC-Q技术团队，执行过大量的AEC-Q测试案例，积累了丰富的认证试验经验，可为您提供更、更可靠的AEC-Q认证试验服务。
覆盖的测试标准
AEC-Q001 零件平均测试指导原则
AEC-Q002 统计式良品率分析的指导原则
AEC-Q003 芯片产品的电性表现特性化的指导原则
JEDEC JESD-22 封装器件可靠性测试方法
MIL-STD-883 微电子测试方式和程序
GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序
EIA -469 破坏性的物理分析
MIL-STD-202 电子和电气元器件测试方法
J-STD-002 可焊性规格
MIL-PRF-27 电感/变压器测测试方法
产品范围：
集成电路(IC)
查看全部介绍
