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冷镜式露点仪原理
不同水份含量的气体在不同温度下的镜面上会结露。采用光电检测技术，检测出露层并测量结露时的温度，直接显示露点。镜面制冷的方法有：半导体制冷、液氮制冷和高压空气制冷。
被测湿气进入露点测量室时掠过冷镜面，当镜面温度湿气的露点温度时，镜面呈干燥状态，此时光电检露装置中光源发出的光照在镜面上，几乎完全反射，由光电传感器感应到并输出光电信号，经控制回路比较、放大、驱动热电泵，对镜面致冷。当镜面温度降至湿气露点温度时，镜面上开始结露（霜），光照在镜面上出现漫反射，光电传感器感应到的反射信号随之减弱，此变化经控制回路比较、放大后调节热电泵激励，使其制冷功率适当减小，后，镜面温度保持在样气露点温度上。镜面温度由一紧贴在冷镜面下方的铂电阻温度传感器感应，并显示在显示窗上。新能源公司仪器外校
红外露点仪原理
利用气体中的水份对红外光谱吸收的特性，可以设计红外式露点仪。该仪器很难测到低露点，主要是红外探测器的峰值探测率还不能达到微量水吸收的量级，还有气体中其他成份含量对红外光谱吸收的干扰。但这是一项很新的技术，对于环境气体水份含量的非接触式在线监测具有重要的意义。如美国米科公司。
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扫描电子显微镜（SEM）是一种大型精密仪器，它利用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜，使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像。在1932年，Knoll提出了扫描电子显微镜（SEM）可以用于成像放大的概念，并在1935年成功制造出了非常原始的模型。然而，由于不能获得高分辨率的样品表面电子像，SEM一直未能得到进一步发展，仅被用作电子探针X射线微分析仪中的辅助成像装置。
直到1938年，德国科学家阿登纳成功研制出台采用缩小透镜用于透射样品的SEM。此后，在众多科学家的努力下，SEM从理论到仪器结构等方面的问题逐渐得到解决。
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1965年，英国剑桥仪器公司生产的台SEM作为商品出现，它采用二次电子成像技术，分辨率为25纳米，使SEM进入了实用阶段。
1968年，Knoll在美国芝加哥大学成功研制出场发射电子枪，并将其应用于SEM，获得了较高分辨率的透射电子像。1970年，他发表了用扫描透射电镜拍摄的铀和钍中的铀原子和钍原子像，这使SEM又进入了一个新的领域。
2021年，全数字化扫描电子显微镜新品在无锡惠山发布，标志着SEM技术的不断发展和进步。
