服务项目 |
半导体器件,功率模块,功率器件,IGBT器件 |
面向地区 |
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行业类型 |
电子电器 |
大功率IPM器件的寿命评估耐久性测试AQG324-广电计量实验室
功率半导体的技术要求
汽车级功率半导体模块标准长期缺失，直到近几年才有一些标准可以参考。汽车IGBT一是要满足新汽车级标准LV324/AQG324的要求，二是中国IGBT联盟和中关村宽禁带联盟等团体标准。这些标准主要在温度冲击、功率循环、温度循环、结温等与全生命周期可靠性相关的一些方面提出了更高的标准
随着新能源汽车半导体功率电子国产化的发展，广电计量引进国际的测试技术，基于LV/AQG324认证标准，为功率半导体产业上下游企业提供功率模块电学性能检测，材料、器件与系统的可靠性测试以及失效分析。技术带来了验证技术新的挑战，广电计量以LV/AQG324认证试验为基础，积极布局第三代半导体功率模块的可靠性业务领域，助力器件国产化、高新化发展。
测试周期：
2-3个月，提供全面的认证计划、测试等服务
服务内容：
广州广电计量失效分析实验室功率器件技术团队，拥有丰富的功率半导体器件检测，器件可靠性测试，以及可靠性测试设备设计制造的经验，可为您提供电学参数检测，可靠性测试，失效分析及定制化服务。
产品范围：
适用于MOSFET，Diode，IGBT，第三代半导体器件等元件构成的功率模块。
测试项目：
TST，V，MS，PCsec，PCmin，HTS，LTS，HTRB，HTGB，H3TRB，Lp，Rth，
测试标准：
IEC 60749-25，DIN EN 60068-2-6，DIN EN 60068-2-27，IEC 60749-34，IEC 60749-34，IEC 60749-6，JEDEC JESD-22 A119，IEC 60747-9，IEC 60747-9，IEC 60749-5，IEC 60747-15，DIN EN 60747-15
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